2015全國(guó)表面分析科學(xué)與技術(shù)應(yīng)用學(xué)術(shù)會(huì)議召開(kāi)

2015年5月15日，2015年全國(guó)表面分析科學(xué)與技術(shù)應(yīng)用學(xué)術(shù)會(huì)議在寧波召開(kāi)。

會(huì)議現(xiàn)場(chǎng)

2015年全國(guó)表面分析科學(xué)與技術(shù)應(yīng)用學(xué)術(shù)會(huì)議由高校分析測(cè)試中心研究會(huì)、全國(guó)微束分析標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)表面分析分技術(shù)委員會(huì)、北京分析測(cè)試協(xié)會(huì)表面分析專業(yè)委員會(huì)主辦，中國(guó)科學(xué)院寧波材料技術(shù)與工程研究所、國(guó)家大型科學(xué)儀器中心-北京電子能譜中心協(xié)辦。2015年全國(guó)表面分析科學(xué)與技術(shù)應(yīng)用學(xué)術(shù)會(huì)議為期兩天，80余名從事表面分析技術(shù)研究與應(yīng)用的研究人員參加了會(huì)議。

中國(guó)科學(xué)院寧波材料技術(shù)與工程研究所副所長(zhǎng)李潤(rùn)偉致辭

此次會(huì)議承辦方中國(guó)科學(xué)院寧波材料技術(shù)與工程研究所副所長(zhǎng)李潤(rùn)偉致辭歡迎各位研究人員的光臨。據(jù)李潤(rùn)偉介紹，寧波材料技術(shù)與工程研究所的發(fā)展歷程。2004年，中國(guó)科學(xué)院與浙江省人民政府、寧波市人民政府三方簽署協(xié)議，決定共建中科院寧波材料所。2007年寧波材料所順利通過(guò)驗(yàn)收并正式揭牌，組建了磁性材料與機(jī)電裝備、高分子與復(fù)合材料、功能材料與納米器件、表面工程、燃料電池與能源技術(shù)、特種纖維6個(gè)事業(yè)部。2009年寧波材料所二期建設(shè)啟動(dòng)，將研究領(lǐng)域從原先的材料領(lǐng)域進(jìn)一步拓展到新能源和先進(jìn)制造領(lǐng)域。經(jīng)過(guò)十年發(fā)展，目前寧波材料所基本建成了一個(gè)既滿足自身發(fā)展需求又積極為地方企業(yè)服務(wù)的科技支撐平臺(tái)，整個(gè)平臺(tái)儀器設(shè)備總值約3億元;建成12.9萬(wàn)平方米科研大樓與實(shí)驗(yàn)室，建設(shè)了碳纖維制備國(guó)家工程實(shí)驗(yàn)室、發(fā)改委磁性材料科技創(chuàng)新服務(wù)平臺(tái)、等一批科研平臺(tái)，為科研工作順利開(kāi)展提供了保障。

清華大學(xué)朱永法教授主持會(huì)議

清華大學(xué)朱永法教授指出，2015年全國(guó)表面分析科學(xué)與技術(shù)應(yīng)用學(xué)術(shù)會(huì)議旨在推動(dòng)表面分析科學(xué)與應(yīng)用技術(shù)的快速發(fā)展，加強(qiáng)同行之間的交流合作，展示相關(guān)的新成就、新進(jìn)展;建立表面分析的交流平臺(tái)，形成自由研討的學(xué)術(shù)氛圍，讓思想碰撞出火花，并共同提升理論與技術(shù)水平，促進(jìn)表面分析科學(xué)研究隊(duì)伍的壯大。

本次會(huì)議共有4個(gè)大會(huì)報(bào)告、12個(gè)邀請(qǐng)報(bào)告、14個(gè)口頭報(bào)告，另外，島津/Kratos、高德英特/ULVAC-PHI等儀器設(shè)備公司在會(huì)議現(xiàn)場(chǎng)展示了相關(guān)技術(shù)資料。

其中，會(huì)議天進(jìn)行了3個(gè)大會(huì)報(bào)告，分別是：

報(bào)告題目：Interface Engineering for 2D Materials Based OptoelectronicDevices

報(bào)告人：陳偉副教授/新加坡國(guó)立大學(xué)

陳偉副教授目前主要關(guān)注于低維分子量子結(jié)構(gòu)、有機(jī)光電器件、石墨烯及復(fù)合材料的界面問(wèn)題，以及其在分子器件、有機(jī)太陽(yáng)能電池、納米催化等方面的應(yīng)用。在此次報(bào)告中，陳偉副教授利用表面分析技術(shù)研究了二維材料石墨烯、黑磷功能化調(diào)制界面反應(yīng)機(jī)理等問(wèn)題。

報(bào)告題目：Chemistry with a Tiny Hammer

報(bào)告人：鄭直教授/許昌學(xué)院

鄭直教授在國(guó)際上首次提出了一個(gè)Chemistry with a tiny hammer的全新化學(xué)反應(yīng)機(jī)制來(lái)設(shè)計(jì)和實(shí)現(xiàn)表面高分子聚合反應(yīng)。與常規(guī)的濕法化學(xué)過(guò)程來(lái)制備交聯(lián)的聚合物薄膜不同，這種路線不會(huì)用到任何引發(fā)劑、添加劑及催化劑等，屬于環(huán)境友好型制備反應(yīng);整個(gè)過(guò)程只需用團(tuán)體業(yè)務(wù)遍及超過(guò)130 個(gè)國(guó)家到動(dòng)能為幾個(gè)eV 的質(zhì)子束來(lái)實(shí)現(xiàn)干法化學(xué)合成，可選擇性導(dǎo)致C-H 鍵斷裂，從而能夠適應(yīng)各種分子器件和醫(yī)用材料等的制備和改進(jìn)?？稍趩尉Ч杵推渌雽?dǎo)體器件上制備得到聚苯乙烯、聚丙烯酸、聚乙烯醇、聚氧乙烯、聚甲基丙烯酸N，N-二甲氨基乙酯等交聯(lián)的超薄聚合物薄膜，通過(guò)對(duì)反應(yīng)能量和劑量的控制，表面官能團(tuán)能得到很好保護(hù)，解決了聚合物薄膜制備以及改性過(guò)程中的節(jié)能、聚合物表面官能團(tuán)的保護(hù)等技術(shù)問(wèn)題。

報(bào)告題目：The applications of large Ar cluster beams再進(jìn)行對(duì)實(shí)驗(yàn)機(jī)精度找正 in XPS

報(bào)告人：Dr. Christopher James Blomfield/Kratos, UK

Kratos公司位于英國(guó)曼切斯特，現(xiàn)在是日本島津公司的全資子公司。Kratos是世界上早生產(chǎn)商品化利用專項(xiàng)建設(shè)基金X射線光電子能譜的廠家之一。2014年5月，Kratos推出了新型的XPS譜儀Axis Supra，并在短短的兩個(gè)月的時(shí)間內(nèi)，成功地在范圍內(nèi)銷售了6臺(tái)Axis Supra型XPS譜儀。此次報(bào)告中，Christopher James Blomfield/博士介紹了由于單原子離子源用于軟物質(zhì)例如聚合物的深度剖析和表面清潔時(shí)受到限制。而氣體團(tuán)簇離子源的離子束減少了進(jìn)入樣品表面中的能量，從而降低樣品損傷。報(bào)告指出，氣體團(tuán)簇離子源是進(jìn)行深度分析有機(jī)物和聚合物而不破壞其化學(xué)狀態(tài)的有效工具。

汕頭大學(xué)王江涌教授、清華大學(xué)姚文清工程師、上海交通大學(xué) 鄒志強(qiáng)教授、石油化工科學(xué)研究院邱麗美工程師、高德英特科技有限公司魯?shù)馒P、ULVAC-PHI Dr. Takuji Shibasaki、寧波大學(xué)譚瑞琴研究員、四川大學(xué)田云飛博士、中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院王海博士也分別做精彩報(bào)告，介紹了X射線光電子能譜、俄歇電子能譜、二次離子質(zhì)譜、輝光放電光譜、掃描探針顯微鏡等表面分析技術(shù)在各領(lǐng)域的應(yīng)用。

與會(huì)人員合影

2012年，清華大學(xué)分析中心、國(guó)家大型科學(xué)儀器中心-北京電子能譜中心組織召開(kāi)了屆全國(guó)表面分析科學(xué)與技術(shù)應(yīng)用學(xué)術(shù)會(huì)議，此后該會(huì)議每年舉行一次。今年是該會(huì)議第四次舉辦。

表面科學(xué)是上世紀(jì)60年代后期發(fā)展起來(lái)的一門(mén)學(xué)科，目前已經(jīng)成為國(guó)際上為活躍的學(xué)科之一。材料表面的成分、結(jié)構(gòu)、化學(xué)狀態(tài)等與內(nèi)部有明顯的不同，而表面特性對(duì)材料的物理、化學(xué)等性能影響很大。隨著材料科學(xué)、化學(xué)化工、半導(dǎo)體及薄膜、能源、微電子、信息產(chǎn)業(yè)及環(huán)境領(lǐng)域等高新技術(shù)的迅猛發(fā)展，對(duì)于表面分析技術(shù)的需求日益增多。同時(shí)，由于近幾十年超高真空、高分辨和高靈敏電子測(cè)量技術(shù)的快速發(fā)展，表面分析技術(shù)也有了長(zhǎng)足進(jìn)步。目前，已經(jīng)開(kāi)發(fā)了數(shù)十種常用的表面分析技術(shù)，如X射線光電子能譜、俄歇電子能譜、二次離子質(zhì)譜、輝光放電光譜、掃描探針顯微鏡等。國(guó)內(nèi)表面分析技術(shù)起步于80年代，廣泛應(yīng)用于基礎(chǔ)科研、先進(jìn)材料研制、高精尖技術(shù)、裝備制造等領(lǐng)域。

撰稿：劉豐秋

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